●產品概述：

本套探針分別符合GB2099.1-2008標準中的圖9及圖10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求，20N推力探針主要用於檢驗保護門內的帶電部件是否被觸及，1N推力探針主要用於檢驗保護門內的帶電部件及有加強保護插座的帶電部件是否被觸及。

●技術參數

20N推力試驗探針JX-I20：探針部分3+0.03  0×1+0.015  0×80±0.5，端部倒圓R0.2±0.05，20N推力;

1N推力試驗探針JX-I21：探針部分Φ1+0.015  0×80±0.5，端部倒圓R0.05，1N推力  

●使用方法

將探針端部接觸試樣，然後施力20N（1N），當探針凸出端A-A麵與B-B麵平齊即可。